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2019年度後期 理学部TOEIC IPテスト 優秀者を表彰しました。

2020年2月4日

  

 令和2年2月3日(月)、理学部長室において、令和元年12月18日に行われた理学部TOEIC IPテストで優秀な成績を修めた理学部および大学院理工学教育部修士課程(理学領域)の学生を対象に表彰式が行われました。
 受賞者の皆様、誠におめでとうございます。ますますのご活躍を期待しております。


【表彰内容】

最優秀賞(総合800点以上)
  2名
優秀賞(総合600点以上)
11名
奨励賞(総合550点以上等)
  8名


表彰学生と教員(若杉学部長、石井教務委員長)