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2019年度前期 理学部TOEIC IPテスト 優秀者を表彰しました。

2019年10月23日

  

 令和元年10月18日(金)、理学部多目的ホールにおいて、令和元年7月3日に行われた理学部TOEIC IPテストで優秀な成績を修めた理学部および大学院理工学教育部修士課程(理学領域)の学生を対象に表彰式が行われ、若杉学部長からひとりひとりに、表彰状が授与されました。
 受賞者の皆様、誠におめでとうございます。ますますのご活躍を期待しております。


【表彰内容】

最優秀賞:総合800点以上  1名
優秀賞: 総合600点以上 19名
奨励賞: 総合550点以上  7名



表彰学生と教員